太陽能組件EL缺陷檢測儀檢測太陽能電池組件的裂紋、碎片、焊點(diǎn)、斷閘和不同轉(zhuǎn)換效率的電池的異常。太陽能電池片有單晶硅片和多晶硅片，由于生產(chǎn)過程中制造條件的隨機(jī)性，在生產(chǎn)過程中存在一些缺陷。EL檢測儀采用紅外測試方法對電池組件進(jìn)行測試，實(shí)現(xiàn)EL成像模式，檢測電池組件內(nèi)部是否存在電池破裂、開裂、黑芯片、嚴(yán)重斷閘、焊料斷裂、焊破、焊破等缺陷。然后進(jìn)入下一個過程，因?yàn)殡娫窗l(fā)出的光與PN結(jié)中的離子濃度有很大的關(guān)系，所以根據(jù)EL計(jì)算機(jī)反射的圖像可以判斷硅片內(nèi)部是否異常。從而保證了太陽能電池組件的質(zhì)量。

那么太陽能電池有哪些缺陷呢?

黑心片:EL照片反射的黑心膜形成的主要原因是該區(qū)域沒有發(fā)出1150紅外光，導(dǎo)致黑心片在紅外照片中反射。這種黑色芯板是由于在中心部分的高電阻率而形成的。它與硅襯底的少數(shù)載流子濃度有關(guān)。

黑色電影:在生產(chǎn)過程中,由于反復(fù)強(qiáng)調(diào)縮短的定向凝固時間晶體,潛熱釋放融化和溫度場溫度梯度不匹配,晶體生長速率加快,過度的熱應(yīng)力引起的內(nèi)部位錯硅片。

短路黑片:由單根線焊接元件引起的短路;元器件層壓前電池電池效率低下所形成的短路黑膜;邊緣明亮的黑色薄膜稱為非短路黑色薄膜。主要是由于n型芯片在硅片的錯誤使用中，導(dǎo)致PN結(jié)，短路電池?zé)o法提供外部電源，輸出功率和IV測試曲線也降低。導(dǎo)致整個元件功率和填充系數(shù)受到影響。
電池柵極:電池柵極是由于太陽能電池絲網(wǎng)印刷過程中參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或絲網(wǎng)印刷質(zhì)量不合格造成的。輕微的柵極斷口對元件來說不是很重要，但如果柵極嚴(yán)重，影響單片電池的電流會影響整個元件的電氣性能。

裂隙:電池裂隙的形成有許多因素。可能是各種各樣的外力因素，也可能是由于環(huán)境和電池本身的缺陷造成的裂紋甚至碎片。因此，很難找到統(tǒng)一的法律或得到明確的答案。裂紋片的成像特征是在EL試驗(yàn)下裂紋產(chǎn)生明顯的明暗差異的線(黑線)。電池破裂的可能后果是部分損壞或失去電流。

通過以上分析可知，自動EL缺陷檢測儀通過EL成像可以快速、準(zhǔn)確地檢測到太陽能電池和組件的裂紋等缺陷。EL缺陷檢測儀采用進(jìn)口制冷紅外攝像機(jī)，圖像采集清晰準(zhǔn)確。獨(dú)特的鏡面反射設(shè)計(jì)，封閉的光路設(shè)計(jì)，有效適應(yīng)不同的工作環(huán)境，并具有全功能的PC軟件支持，能滿足客戶不同的需求。 文章關(guān)鍵詞：