太陽(yáng)能電池組件缺陷EL檢測(cè)儀利用晶體硅的電致發(fā)光原理利用高分辨率的紅外相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像獲取并判定組件的缺陷，紅外檢測(cè)可以全面掌握太陽(yáng)電池內(nèi)部問(wèn)題，為改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供依據(jù)提升產(chǎn)品質(zhì)量，可以對(duì)問(wèn)題組件進(jìn)行及時(shí)返修，盡可能的降低損失。 文章關(guān)鍵詞：